透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因，其內部會(huì )產(chǎn)生內應力，引起雙折射，晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。應力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補償原理，通過(guò)對樣品的光程差的定量測定，確定樣品應力雙折射的大小。

　　日本PHL公司應力雙折射儀的原理：   
    
     當光穿透具有雙折射特性的透明物質(zhì)時(shí)，光的偏光狀態(tài)會(huì )產(chǎn)生變化。換句話(huà)說(shuō)，比較光穿透物體前之后的偏光狀態(tài)，即可評估物質(zhì)的雙折射。該設備裝配的偏光感應器，使用了日本PHL公司特有的光子晶體技術(shù)組裝而成的偏光感應器，能瞬間將偏光資訊以影像方式提取保存。再搭配專(zhuān)屬的演算、畫(huà)像處理軟件，能將雙折射分布數據定量化，變成可以分析的資料。

用途：
        應力儀是用來(lái)檢查透明物體內應力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學(xué)玻璃、光學(xué)儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標的檢驗方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)領(lǐng)域也有不少應用。同時(shí),本儀器也是各大專(zhuān)院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗設備。

　　日本PHL公司應力雙折射儀系統特點(diǎn)：

　　1、操作簡(jiǎn)單/快速測定：獨特的偏振成像傳感器進(jìn)行簡(jiǎn)單的和快速的操作即可測量相位差的分布。

　　2、2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀(guān)解釋被測樣品的特性。

　　3、大相位差測試能力：通過(guò)對三組不同波長(cháng)的測量數據進(jìn)行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。